检测电容表面字符及划伤缺陷


  • 检测电容表面字符及划伤缺陷

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案例说明:普通光源高角度直射到样品上时,其表面会存在反光干扰,亮度不均匀。采样条光两侧低角度打光,偏振镜同时配合使用,可有效消除反光,白色字符与黑色背景对比度提高,表皮破损划伤地方显白色。

可使用光源:HL-LWD-150-W


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