电子行业
检测USB Type-C 接口金属壳表面缺陷
- 详细介绍
案例说明:金属壳两侧为弧面,拱形线光和同轴光组合使用,平面及弧面图像整体效果均匀柔和,压伤缺陷呈黑色,对比明显。
可使用光源:HL-DOML-300-W 、 HL-CL-75-W
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案例说明:金属壳两侧为弧面,拱形线光和同轴光组合使用,平面及弧面图像整体效果均匀柔和,压伤缺陷呈黑色,对比明显。
可使用光源:HL-DOML-300-W 、 HL-CL-75-W